Identité
Nom de l'équipement / technique : Scanning Near-field Optical Microscope (Microscope SNOM)
Modèle (Référence) : NeaSCOPE (NEASPEC)
Crédit photo : GREMAN
Légende de la photographie : Microscope SNOM installé sur table optique avec baie d’alimentation
Description
Le microscope optique en champ proche SNOM (SNOM pour « Scanning Near-field Optical Microscope ») sert à sonder des matériaux et systèmes très divers, en particulier hétérogènes, avec une résolution spatiale nanométrique. Cette technique de spectroscopie permet de caractériser de manière non-destructive, leurs propriétés mécaniques, chimiques et physiques. Cet équipement permet de comprendre et d’optimiser les mécanismes fondamentaux à l’origine des propriétés de divers matériaux : oxydes pour l’efficacité énergétique, matériaux magnétiques et quantiques, composants et systèmes pour la microélectronique, dispositifs piézoélectriques et ultrasonores, etc.
De plus, il a démontré son utilité dans de nombreux domaines au-delà de la science des matériaux : patrimoine, santé/médecine, biologie/sciences du vivant, cosmétique…
L’instrument dispose des fonctionnalités suivantes
- Mesures nano-mécaniques (AFM), nano-électriques (CFM), topographiques (AFM), photothermiques (AFM-IR), de potentiel de surface (KPFM), de force piézoélectrique (PFM)
- Imagerie et spectroscopie en champ proche dans le THz (5 à 100 cm-1) et l’infrarouge moyen et proche (500 à 8000 cm-1).
Contact
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