Scanning Near-field Optical Microscope

Scanning Near-field Optical Microscope

Identité

Nom de l'équipement / technique : Scanning Near-field Optical Microscope

Modèle (Référence) : NeaSCOPE (NEASPEC)

Légende de la photographie : Microscope SNOM installé sur table optique avec baie d’alimentation

Description

Le microscope optique en champ proche SNOM (SNOM pour « Scanning Near-field Optical Microscope ») sert à sonder des matériaux et systèmes très divers, en particulier hétérogènes, avec une résolution spatiale nanométrique. Cette technique de spectroscopie permet de caractériser de manière non-destructive, leurs propriétés mécaniques, chimiques et physiques. Cet équipement permet de comprendre et d’optimiser les mécanismes fondamentaux à l’origine des propriétés de divers matériaux : oxydes pour l’efficacité énergétique, matériaux magnétiques et quantiques, composants et systèmes pour la microélectronique, dispositifs piézoélectriques et ultrasonores, ... De plus, il a démontré son utilité dans de nombreux domaines au-delà de la science des matériaux : patrimoine, santé/médecine, biologie/sciences du vivant, cosmétique…

L’instrument dispose des fonctionnalités suivantes :
Mesures nano-mécaniques (AFM), nano-électriques (CFM), topographiques (AFM), photothermiques (AFM-IR), de potentiel de surface (KPFM), de force piézoélectrique (PFM). Imagerie et spectroscopie en champ proche dans le THz (5 à 100 cm-1) et l’infrarouge moyen et proche (500 à 8000 cm-1).

Contact

Nom du laboratoire
GREMAN
Nom du responsable scientifique
TA PHUOC Vinh, SOPRACASE Rodolphe

Contacter le responsable scientifique

Avant de prendre contact avec le laboratoire, veuillez prendre connaissance des modalités du parc instrumental

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