Microscope électronique en transmission

Microscope électronique en transmission

Identité

Nom de l'équipement / technique : Microscope électronique en transmission

Modèle (Référence) : JEOL - ACCELARM 200CF TEM/STEM JEOL

Légende de la photographie : YAG hautement non-stœchiométrique (Y3,4Al4,6O12) synthétisé en conditions extrêmes par cristallisation directe du liquide fondu à haute température (2000°C) lors d’une trempe, dans un système de lévitation aérodynamique assisté par chauffage laser CO2. Image STEM-HAADF (contraste chimique) et cartographie EDS élémentaire (Al: bleu; Y:rouge) à la résolution atomique et structure cationique associée.

Description

L’ACCELARM 200 Cold FEG JEOL est un Microscope Electronique en Transmission double corrigé, équipé d’un canon à émission de champs froid, d’un spectromètre EDX et d’un GIF. Il permet de déterminer l’organisation atomique des matériaux, d’un point de vue structural et chimique, grâce au couplage de l’imagerie haute résolution et de la cartographie élémentaire.

Il dispose d’un mode Low Mag proposant un large champ de vue de 440 µm, permettant de repérer facilement la zone d’intérêt sur l’échantillon. L’acquisition d’images à haute résolution est facilitée par des déplacements piezo de la platine sur 3 axes ainsi que par l’option de correction de dérive, en temps réel, de la caméra OneView. Le mode STEM est équipé de 3 détecteurs permettant de collecter simultanément les électrons diffusant à différents angles.

La configuration de cet instrument a été pensée pour répondre à un large éventail de besoins en micro- et nano-caractérisations des matériaux.

Équipement complémentaire

Le microscope est doté de différents porte-objets : simple tilt, double tilt analytique (Be), refroidit LN2 JEOL, et double tilt chauffant in situ (Fusion de Protochips).

Il possède également :

- un canon à émission de champ à pointe froide (Cold-FEG)
- un alignement à 2 tensions d’accélération : 200 kV et 80 kV suivant la sensibilité de l’échantillon au faisceau d’électrons
- 2 correcteurs image et sonde
- une caméra One View avec l’option in situ
- un spectromètre de dispersion en énergie des rayons X (EDXS),
- un filtre en énergie post-colonne (GIF Quantum ER Gatan 965) (EELS+EFTEM) avec détecteurs ADF/BF, option Dual EELS, caméra Ultrascan Gatan USC1000
Le microscope dispose également d’une station de pompage pour les porte-objets et d’un « Ion cleaner » pour nettoyer sous plasma les échantillons avant leur observation.

Type d'échantillons

Oxydes, nanoparticules, minéraux, matériaux géologiques, polymères, alliages métalliques, semi-conducteurs, sous forme de poudre, couche mince ou massif.

Contact

Nom du laboratoire
Plateforme MACLE-CVL Microscopies, imAgeries et ressourCes anaLytiquEs en région Centre-Val de Loire – UAR 2590
Nom du responsable scientifique
Mathieu Allix

Contacter le responsable scientifique

Avant de prendre contact avec le laboratoire, veuillez prendre connaissance des modalités du parc instrumental

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