Microscope à force atomique (AFM)

Le GREMI dispose d’un AFM Dimension ICON de chez Bruker équipé d’une optimisation automatique de l’imagerie (ScanAsyst ®) en mode PeakForce tapping. L’équipement est situé en salle blanche.

La microscopie à force atomique est basée sur la détection des forces d'interactions entre une pointe et la surface d'un échantillon conducteur ou isolant. Le déplacement de la pointe au-dessus de l'échantillon (latéral et vertical) est assuré par un tube piezo-électrique permettant la caractérisation de l’état de surface (rugosité) mais également de mesures métrologiques à l’échelle nanométrique.

Une image topographique tridimensionnelle de la surface de l'échantillon peut-être reconstituée.

L’AFM donne accès à des informations telles que les propriétés topographiques, viscoélastiques, mécaniques, électriques ou magnétiques de l'échantillon selon les modes utilisés.

L’AFM Dimension ICON au GREMI dispose des options suivantes :

- EFM ET MFM pour les mesures de distribution des gradients électriques et magnétiques

- C-AFM,  pour les caractérisations de variations de conductivité électriques sur des échantillons peu conducteurs

- QNM, Quantitative Nano-Mechannical Mapping, pour cartographier les propriétés nano-mécaniques

- KPFM, Kevin Probe Force Microscopy, pour l’étude des interactions électrostatiques

Imagerie à pression atmosphérique non destructive

Taille de l’échantillon/du support : diamètre < 21 cm, épaisseur < 15mm

Analyse de la topographie de surface en X et Y comprise entre 90x90μm et 10x10µm
résolution :  ≈ 2nm en X et Y , ≈ 0.1nm en Z