Microscope à Force Atomique (AFM)

Microscope à Force Atomique (AFM)

Identité

Nom de l'équipement / technique : Microscope à Force Atomique (AFM)

Modèle (Référence) : BRUKER – DIMENSION ICON

Légende de la photographie : : BRUKER – DIMENSION ICON

Description

La microscopie à force atomique est une technique récente extrêmement précise pour l’analyse de la topographie de surface d’échantillons plans. Son principe repose sur l’existence de forces d’interaction entre la pointe et la surface à étudier. L’AFM permet de caractériser l’état de surface (topographie de la surface à l’échelle nanométrique et, dans certains cas, atomique) mais également de déterminer des grandeurs physiques (forces d’adhésion, module de Young). On peut visualiser la surface à l’aide de différents types de forces : Van der Waals (topographie), magnétiques (MFM).

Type d'échantillons

Cette technique s’applique à tout type d’échantillons (conducteur, semi-conducteur, isolant, biologique). De plus, les échantillons peuvent être analysés dans de multiples environnements (air, liquide) et lors de montée en température. Aucune préparation de l’échantillon n’est nécessaire mais les échantillons étudiés doivent être plans, la rugosité de surface doit être inférieure à quelques centaines de nanomètres.

Contact

Nom du laboratoire
ICMN
Nom du responsable scientifique
Marylène VAYER

Contacter le responsable scientifique

Avant de prendre contact avec le laboratoire, veuillez prendre connaissance des modalités du parc instrumental

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