Microscope à force atomique (AFM)

La microscopie à force atomique (AFM) est une technique récente extrêmement précise pour l’analyse de la topographie de surface d’échantillons plans.

Son principe repose sur l’existence de forces d’interaction entre la pointe et la surface à étudier. L’AFM permet de caractériser l’état de surface (topographie de la surface à l’échelle nanométrique et, dans certains cas, atomique) mais également de déterminer des grandeurs physiques (forces d’adhésion, module de Young).

On peut visualiser la surface à l’aide de différents types de forces : Van der Waals (topographie), magnétiques (MFM).

Cette technique s’applique à tous types d’échantillons (conducteur, semi-conducteur, isolant, biologique). De plus, les échantillons peuvent être analysés dans de multiples environnements (air, liquide) et lors de montée en température.

Aucune préparation de l’échantillon n’est nécessaire mais les échantillons étudiés doivent être plans, la rugosité de surface doit être inférieure à quelques centaines de nanomètres.