Diffractomètre de rayons X (DRX)

La diffraction des rayons X est une technique destinée à la caractérisation des matériaux présentant une organisation atomique ordonnée à longues ou courtes distances. Elle permet l’identification et la quantification des phases cristallines, la détermination d’orientations privilégiées du cristal (texture) et d'autres paramètres structuraux comme les périodicités d_hkl, la taille moyenne des domaines cohérents, la cristallinité, l’état de contraintes et de déformations.

Le diffractomètre X peut être utilisé dans plusieurs configurations pour s’adapter à différents types de matériaux :

Diffraction en réflexion : Bragg-Brentano θ/θ (XRD)

Diffraction en transmission 2θ sur capillaire ou échantillon-plan

Diffraction en incidence rasante (GIXRD)

Réflectivité (XRR)

L’analyse GI-XRD permet de détecter des phases cristallines proches de la surface pratiquement invisible en configuration classique 2θ et de déterminer la nature, la structure et la distribution en profondeur des différentes phases composant l’échantillon et ceci de la surface jusqu’au volume. Par déplacement possible du berceau d’Euler, la diffraction peut être enregistrée dans le plan de l’échantillon (in-plane GIXRD) ou perpendiculairement (out-of-plane GIXRD). L’étude XRR permet de déterminer la rugosité de surface, la densité ou porosité d’une couche et l’épaisseur des couches ou leur alternance dans le cas des multicouches (2-200 μm). La précision peut aller jusqu’à la fraction de nanomètre.

Tous types de matériaux cristallins ou semi-cristallins sous forme de poudre, massif, couche mince, nanoparticules déposées sur substrat.