Diffraction à rayons X

Diffraction à rayons X

Identité

Nom de l'équipement / technique : Diffraction à rayons X

Modèle (Référence) : BRUKER D8 Advance

Légende de la photographie : Diffractomètre à rayons X

Description

Le diffractomètre à rayons X D8 ADVANCE de l’IUT de Blois propose deux principales configurations : Bragg-Brentano (thêta-2-thêta), généralement déployée pour les poudres Réflectométrie (XRR) pour l’analyse des couches minces Il est muni d’un dispositif de reconnaissance des composants, d’un système de commutation entièrement automatique et motorisée permettant jusqu’à 6 géométries de faisceaux différents et d’un détecteur linéaire pour des mesures 5 fois plus rapides. L’analyse des diffractogrammes est réalisé sur le logiciel DIFFRA.EVA, muni de la base de données JCPDS du Centre international de données de diffraction ICDD pour l’identification de phases. Le logiciel DIFFRAC.LEPTOS permet l’étude des données de réflectométrie pour l’épaisseur, la rugosité et la densité du film.

Contact

Nom du laboratoire
GREMAN
Nom du responsable scientifique
PIGNON Bruno

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